韩国开发实时诊断半导体工艺部件寿命的系统
来源:中国国际科技合作网 时间:2025-12-01 08:09

资讯编号:2025T-0076

  韩国标准科学研究院(KRISS)研究团队开发出一种测量系统,能安装在等离子体工艺设备上,实时监测设备内部部件状态。该系统由测试部件支架、捕集装置和分析传感器组成。研究人员将测试部件安装在设备上,系统会捕集因等离子体暴露而剥离的部件涂层,并通过传感器对其进行分析,实时诊断部件状况和剩余寿命。使用该系统能提高工艺稳定性和生产效率,减少因不必要的部件更换造成的成本浪费及损失。研究成果发表在《欧洲陶瓷学会杂志》(Journal of the European Ceramic Society)上。

  本文摘自国外相关研究报道,文章内容不代表本网站观点和立场,仅供参考。

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